技術(shù)文章
在納米科技研究領(lǐng)域,藍(lán)景超精密接觸角測(cè)量系統(tǒng)已成為國(guó)-家-級(jí)納米實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配設(shè)備,在全-球78所頂-尖納米研究中心得到應(yīng)用,專業(yè)領(lǐng)域排-名-第二。

納米級(jí)表面解析能力:結(jié)合AFM聯(lián)用技術(shù),可分析納米結(jié)構(gòu)表面的局部潤(rùn)濕性差異
超疏/超親水精確測(cè)量:專為極-端潤(rùn)濕表面優(yōu)化算法,準(zhǔn)確測(cè)量接近0°或180°的接觸角
原位動(dòng)態(tài)觀測(cè):高速攝像功能可捕捉納秒級(jí)潤(rùn)濕動(dòng)力學(xué)過(guò)程,幀率最-高可達(dá)1000fps(選配)
微區(qū)接觸角 Mapping:配合精密定位系統(tǒng),可對(duì)樣品表面進(jìn)行接觸角分布圖繪制
納米表面適應(yīng)性:符合GBT 30447-2013納米薄膜接觸角測(cè)量方法標(biāo)準(zhǔn)
分辨率增強(qiáng):0.0005°超高角分辨率,滿足納米材料微小潤(rùn)濕差異檢測(cè)
微區(qū)測(cè)量:最小測(cè)量區(qū)域直徑0.3mm,可分析微納結(jié)構(gòu)局部潤(rùn)濕特性
真空/氣氛環(huán)境:可選配真空或特定氣氛測(cè)試腔,模擬特殊環(huán)境下的潤(rùn)濕行為
數(shù)據(jù)深度分析:提供接觸角滯后性、潤(rùn)濕動(dòng)力學(xué)參數(shù)等30+專業(yè)分析指標(biāo)
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